簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果：共2筆資料 檢索策略： "王乃堅".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="記憶體"


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    使用部分時間冗餘技術提升嵌入式記憶體之可靠度和良率
    • 電機工程系 /105/ 碩士
    • 研究生： 鄭筠騰   指導教授： 呂學坤
    • 近年來，錯誤修正碼 (ECC) 技術與內建自我修復 (BISR) 技術皆被廣泛地使用來提升記憶體的良率與可靠度。錯誤修正碼技術以及內建自我修復技術主要分別用來處理軟錯誤與硬錯誤。而在過去有許…
    • 點閱：286  下載：8 

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    先進記憶體之良率與可靠度改善技術
    • 電機工程系 /102/ 碩士
    • 研究生： 林書菱   指導教授： 呂學坤
    • 隨著製程進步電晶體縮小，使得記憶體密度提高之外，也造成良率與可靠度的下降，提升良率與可靠度也是先進記憶體有待改善的共同課題。本篇論文針對兩種新興的記憶體组 NROM 及 PCM 提出良率與可靠度的改…
    • 點閱：320  下載：7 
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